積層型 ケルビン法測定用
２探針、４探針　　プローブピッチ　５０μ
特　徴
積層型プローブが最も能力を発揮する商品として、ケルビン法測定がある。当社製品には、他に類例のないプローブとして高い評価を得ている。特に、研究開発の現場における試作品の評価用として広く使用されている。
応用例 応用例
ファインピッチを応用したケルビン法
積層プローブの応用		 積層プローブその他の応用
　　　　　　　４探針最小ピッチ　４０μ
　　　　　　　２探針最小ピッチ　３０μ

　　　　ユーザーご要望による特別仕様制作可能		 　　　　　　　半導体　・　ハードディスク
　　　　　　　磁気ヘッド（ＧＭＲ）
　　　　　　　液晶電極　・　チップコンデンサー
　　　　　　　ファイン回路　・　各種デバイス

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